分光光度計主要由光源系統、單色器系統、樣品室、檢測系統組成。光源發出的復合光通過單色器被分解成單色光，當單色光通過樣品室時，一部分被樣品吸收，其余未被吸收的光到達檢測器，被轉變為電信號，經電子電路的放大和數據處理后。通過顯示系統給出測量結果。
 

　　分光光度計的信號部分可能出現的幾種狀況：
 

　　(1)故障：吸光值結果出現負值;
 

　　原因：沒做空白記憶、樣品的吸光值小于空白參比液;
 

　　檢查：將參比液與樣品液調換位置便知;
 

　　處置：做空白記憶、調換參比液或用參比液配置樣品溶液;
 

　　(2)故障：樣品室內無任何物品的情況下，全波長范圍內基線噪聲大;
 

　　原因：光源鏡位置不正確、石英窗表面被濺射上樣品;
 

　　檢查：觀察光源是否照射到入射狹縫的中央?石英窗上有無污染物?
 

　　處置：重新調整光源鏡的位置，用乙醇清洗石英窗;
 

　　(3)故障：信號的分辨率不夠，具體表現是：本應疊加在某一大峰上的小峰無法觀察到;
 

　　原因：狹縫設置過窄而掃描速度過快，造成檢測器響應速度跟不上，從而失去應測到的信號;按常理，一定的狹縫寬度要對應一定范圍的掃描速度;或者狹縫設置得過寬，使儀器的分辨率下降，將小峰融合在大峰里了。
 

　　檢查：放慢掃描速度看一看或將狹縫設窄;
 

　　處置：將掃描速度、狹縫寬窄、時間常數三者擬合成一個優化的條件;
 

　　(4)故障：樣品室內無任何物品的情況下，僅僅是紫外區的基線噪聲大;
 

　　原因：氘燈老化、光學系統的反光鏡表面劣化、濾光片出現結晶物;
 

　　檢查：可見區的基線較為平坦，斷電后打開儀器的單色器及上蓋，肉眼可以觀察到光柵、反光鏡表面有一層白色霧狀物覆蓋在上面;如果光學系統正常，較大的可能是氘燈老化，可以通過能量檢查或更換新燈方法加以判斷;
 

　　處置：更換氘燈、用火棉膠粘取鏡面上的污物或用研磨膏研磨濾光片(注意：此種技巧需要有一定維修經驗者來實施);
 

　　處置：清洗比色皿，更換空白溶液;
 

　　(5)故障：樣品出峰位置不對;
 

　　原因：波長傳動機構產生位移;
 

　　檢查：通過氘燈的656.1nm的特征譜線來判斷波長是否準確;
 

　　處置：對于儀器而言處理手段相對簡單，使用儀器固有的自動校正功能即可;而對于相對簡單的儀器，這種調整則需要專業人員來進行了;
 

　　(6)故障：樣品信號重現性不良;
 

　　原因：排除儀器本身的原因外，較大的可能是樣品溶液不均勻所致;在簡易的單光束儀器中，樣品池架一般為推拉式的，有時重復推拉不在同一個位置上;
 

　　檢查：更換一種穩定的試樣判定;
 

　　處置：采取正確的試樣配置手段;修理推拉式樣品架的定位碰珠;
 

　　(7)故障：做基線掃描或樣品掃描時，基線或信號有一個大的負脈沖;
 

　　原因：掃描速度設置得過快，信號在讀取時，誤將濾光片或光源鏡的切換當做信號讀取了;
 

　　(8)故障：沒有任何檢測信號輸出;
 

　　原因：沒有任何光束照射到樣品室內;
 

　　檢查：將波長設定為530nm，狹縫盡量開到較寬檔位，在黑暗的環境下用一張白紙放在樣品室光窗出口處，觀察白紙上有無綠光斑影像;
 

　　處置：檢查光源鏡是否轉到位?雙光束儀器的切光電機是否轉動了(耳朵可以聽見電機轉動的聲音)?
 

　　檢查：改變掃描速度;
 

　　(9)故障：做基線掃描或樣品掃描時，基線或信號有一個長時間段的負值或滿屏大噪聲;
 

　　原因：濾光片飼服電機“失步”，造成檔位錯位，國產電機尤甚;
 

　　檢查：重新開機有可能回復，或打開單色器對照波長與濾光片的相對位置來檢查(注意：打開單色器時要保護檢測器不被強光刺激);
 

　　(10)故障：當儀器波長固定在某個波長下時，吸光值信號上下擺動，特別是測量模式轉換為按鍵開關式的簡易儀器;
 

　　原因：開關觸點因長期氧化所致造成接觸不良;
 

　　檢查：用手加重力量按琴鍵時，吸光值隨之變化;
 

　　處置：用金屬活化劑清洗按鍵觸點即可;
 

　　處置：更換飼服電機;
 

　　(11)故障：樣品室放入空白后做基線記憶，噪聲較大，紫外區尤甚;
 

　　原因：比色皿表面或內壁被污染、使用了玻璃比色皿或空白樣品對紫外光譜的吸收太強烈，使放大器超出了校正范圍;
 

　　檢查：將波長設定為250nm，先在不放任何物品的狀態下調零，然后將空比色皿插入樣品道一側，此時吸光值應小于0.07Abs;如果大于此值，有可能是比色皿不干凈或使用了玻璃比色皿;同樣方法也可判斷空白溶液的吸光值大小;
 

　　(12)故障：儀器零點飄忽不定，主要反映在簡易儀器上;
 

　　原因：在簡易儀器中，零點往往是通過電位器來調整，這種電位器一般是炭膜電阻制作的，使用久了往往造成接觸不良;
 

　　處置：更換電位器。